微波/射頻測(cè)試組件
高頻SMD器件測(cè)試夾具
手動(dòng)探針臺(tái)資料
天線遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)
射頻無源器件自動(dòng)分選測(cè)試方案
高速數(shù)字電路板級(jí)設(shè)計(jì)與測(cè)試驗(yàn)證系統(tǒng)解決方案
基于Intel的Delta-L的PCB損耗測(cè)試方案
霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)解決方案
變溫介譜測(cè)試系統(tǒng)
低頻材料介電特性測(cè)試系統(tǒng)解決方
電動(dòng)拱形架測(cè)試系統(tǒng)方案
高頻材料參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)解決方案