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泰克AFG31000系列是全新智能型AFG,它內置任意波形發生和實時波形監測功能。全新AFG31000提供了高級波形生成和編程功能,支持波形監測,擁有觸摸屏界面,讓每個科研人員和工程師的測試變得更簡單,讓工作變得更輕松。 | ||
主要性能指標 | 主要功能 | |||
◆單或雙通道型號 ◆輸出幅度范圍 1mVP-P ~ 10VP-P 至 50Ω 負載 ◆基本 (AFG) 模式: ▲25 MHz, 50MHz, 100MHz, 150MHz, 或 250MHz 正弦波形 ▲250 MSa/s, 1GSa/s 或 2GSa/s 采樣率 ▲14 位垂直分辨率 ▲內置波形包括正弦、方波、鋸齒波、脈沖、噪聲和其他常用波形 ▲掃描、突發和調制模式 (AM, FM, PM, FSK 和 PWM) ◆高級 (序列) 模式: ▲連續模式 (選配序列模式、已觸發模式和選通模式) ▲每條通道上 16Mpts 任意波形內存 (128Mpts 選配) ▲序列模式下最多 256 步,支持循環、跳轉和等待事件 ▲可變采樣時鐘 1μSa/s ~ 2GSa/s | ◆憑借InstaView™ 技術,工程師可以實時查看被測器件 (DUT) 上的實際波形,而不需使用示波器和探頭,降低了因阻抗不匹配引起的不確定度 ◆波形序列選項可以對復雜的長波形編程,支持最多 256 步 ◆9 英寸容性觸摸屏的操作與智能手機類似,為常用設置提供了快捷方式 ◆內置 ArbBuilder 可以在儀器上創建和編輯任意波形,而不需要連接電腦 ◆可以防止輸出發生過壓和過流,最大限度地降低儀器損壞的潛在風險 ◆兼容 TekBench™ 軟件,在實驗室中幫助學生設置、控制和分析測試結果 | |||
型號 | 模擬通道 | 輸出頻率 | 記錄長度 | 采樣率 | 垂直分辨率 |
AFG31021 | 1 | 25 MHz | 16 MSa/通道 | 250 MS/s | 14 位 |
AFG31051 | 1 | 50 MHz | 16 MSa/通道 | 500 MS/s | 14 位 |
AFG31022 | 2 | 25 MHz | 16 MSa/通道 | 250 MS/s | 14 位 |
AFG31052 | 2 | 50 MHz | 16 MSa/通道 | 500 MS/s | 14 位 |
AFG31101 | 1 | 100MHz | 16 MSa/通道 | 1 GS/s | 14 位 |
AFG31151 | 1 | 150 MHz | 16 MSa/通道 | 2 GS/s | 14 位 |
AFG31102 | 2 | 100 MHz | 16 MSa/通道 | 1 GS/s | 14 位 |
AFG31152 | 2 | 150 MHz | 16 MSa/通道 | 2 GS/s | 14 位 |
AFG31251 | 1 | 250 MHz | 16 MSa/通道 | 2 GS/s | 14 位 |
AFG31252 | 2 | 250 MHz | 16 MSa/通道 | 2 GS/s | 14 位 |
模擬電路檢定 |
| 這是一個模擬世界。 所有物理量均使用模擬信號捕獲和表示。 因此,需要檢定放大器、濾波器和轉換器等模擬電路的性能。 ◆InstaView™ 技術避免在阻抗不匹配的 DUT 上增加的波形不確定性 ◆頻率范圍為 25 MHz 至 250 MHz ◆由于信號保真度高,無需使用外部濾波器或衰減器 ◆由于具有頻率捷變特性且正弦波平坦度經過校準,頻率響應測試可以輕松完成 | ||
真實場景信號復制 |
| 傳感器廣泛用于幾乎所有現代化電子設計領域,從汽車到醫療器械再到電子消費品。 迄今為止,使用 AFG 捕獲波形并進行復制以便排除故障或驗證一直是極具挑戰的過程。 ArbBuilder 可直接導入多個泰克示波器產品系列保存的 csv 格式的波形高達 128 M 點的任意內存極大地增加了信號的長度低噪音本底使信號更為清晰。 | ||
函數驗證和性能檢定 |
| 在產品上市前,測試工程師必須進行大量測試用例,確保產品滿足技術規格。 但是,此過程比較耗時且重復。 ◆完全可編程,實現自動測試和手動測試的直觀用戶界面 ◆波形序列使用戶在一個序列中序列化所有測試程序 ◆靈活的重復跳轉方法保證高效率 ◆高達 128 M 點的任意內存和內置非易失性閃存存儲所有波形和測試程序 | ||
系統與時鐘或脈沖同步 |
| 數字設計中的所有電路部分按照時鐘速度同時工作。大系統中的所有設備必須與觸發信號協調,以確保它們正常、可靠地工作。使用 AFG31000 是生成時鐘和觸發脈沖的有效方法。 ◆脈沖/方波頻率范圍高達 160 MHz ◆頻率捷變實現時鐘不同速率的無縫切換 ◆易用的向導說明指導您完成多臺設備的同步過程以便增加通道數 ◆低抖動水平,讓您在觸發系統時更加自信 | ||
雙脈沖測試 |
| 雙脈沖測試是一種用于測量開關器件參數和評估 MOSFET 和 IGBT等功率器件動態性能的方法。雙脈沖測試可測量開啟參數、關閉參數和反向恢復參數。 執行此測試可: ◆確保MOSFET 和 IGBT 等功率器件滿足產品規格書中的規格 ◆確認功率器件或電源模塊的實際值或偏差 ◆在各種負載條件下測量這些開關器件的參數,并在多個設備上驗證性能 | ||
高級研究和教育 |
| 研究人員和教師需要大量信號才能完成研究和教學工作。 測試可以像一系列的脈沖一樣簡單,模擬 Geiger-Muller 計數器的輸出,或者像一個長基帶 IQ 一樣復雜。 ◆InstaView™ 技術避免因連接復雜負載上增加輸出波型不確定性 ◆確整合多種特性與功能 ◆雙工作模式均衡易用性和靈活性以便生成最復雜波形 ◆內置的 ArbBuilder 用于在屏幕上直接生成和編輯任意波形 |